開催概要OUTLINE

2023年のX線分析討論会は，５年ぶりに東京で開催いたします。

会期：　2023年10月21日（土）～ 22日（土）

会場：　東京都市大学 世田谷キャンパス

（東京都世田谷区玉堤1-28-1，https://www.tcu.ac.jp/）

主催：　(公社)日本分析化学会 X線分析研究懇談会

共催：　

後援：　

協賛学会（50音順）：　

協賛企業（50音順）：

討論主題

  1. （検討中）
  2. （検討中）

依頼講演

　検討中

　

    講演・参加登録に関してregistration

    講演申込

    （後日公開）

     

    講演要旨の作成・提出

    　■要旨作成要領
    　　下記のテンプレート (MS-Word) をダウンロードしてお使いください。 
    　　　講演要旨テンプレート (クリックでダウンロードできます)

    　　一般講演の要旨サイズはA4で2ページとします。
    　　(依頼講演も同様の書式ですが、ページ数については別途ご依頼申し上げます)

    　　その他の書式等は講演要旨テンプレートをダウンロードしてご確認ください。

    　■提出方法
    　　

    （後日公開）

     

    　　一般講演要旨締切：　

    事前参加登録

    （後日公開）

    参加登録費

    （後日公開）

    ■ 振込先

    （後日公開）

    ■　領収書
　
（後日公開）

    ミキサーについて

    （後日公開）

    講演概要presentation

    発表方法に関して

    口頭発表

    • 発表時間は15分，質疑応答時間は5分です。発表12分経過で1鈴，15分経過で2鈴，20分経過で3鈴を鳴らします。十分な討論時間確保のため，発表時間厳守をお願いします。

    • PC上の発表資料をプロジェクターでスクリーンに投影して発表していただきます。

    • PCとプロジェクターとの接続は，HDMI端子またはミニD-sub 15ピン端子との接続ケーブルを用意しています。

    • 発表資料をUSBメモリーで持参し，本部PCにて発表されることをお勧めいたします。本部PCはWindows 10仕様で，MS-Power Point 2016とAdobe Acrobat Readerがご利用いただけます。ご自身の発表前の休憩時間中に，投影確認を行うようお願いいたします。

    • ご自身のPCで発表される場合には，必ず休憩時間の間に接続確認を行ってください。また不測の事態に備え，本部ＰＣでも投影できるよう，資料をUSBメモリーで持参願います。

    ポスター発表

    • ポスターは，1日目（10月21日）の午前9時から掲示可能です。「ポスター発表時間」終了（15:10）後は，速やかにポスターを撤去願います。なお，各自のポスターは必ずご自身でお持ち帰り願います。

    • 各ポスター掲示位置の左上に発表番号を表示していますので，自身の発表番号位置に掲示してください。貼り付け資材（押しピン）は事務局で準備いたします。

    • 各ポスター発表の貼り付け可能面積は，900 (W) x 1,600 (H) mm　です。A0版が掲示いただけますが，ポスターの形態は自由です。

    • 会場の混雑緩和のため，発表のコアタイムを以下の通りとします。

    　　　奇数ポスター：13:10～14:10，　偶数ポスター：14:10～15:10

    　コアタイム中は，発表者は自身のポスター前で見学者との討論をお願いします。特に学生賞対象ポスターは，コタタイム中に審査員が訪問しますので，必ず居るようにしてください。

    プログラムprogram

    依頼講演

    （準備中）

    浅田賞受賞講演

    （準備中）

    プログラム・タイムテーブル

    （準備中）

    講演要旨集

    （準備中）

    Ｘ線分析の進歩journal

    ぜひ「X線分析の進歩」へご投稿をお願いします．投稿の手引き等はこちらをご参照ください。

    第53巻が2022年3月31日に発行されました！

    「X線分析の進歩」について

    日本分析化学会X線分析研究懇談会 編集
    年刊，B5判
    定価 6,050円(本体価格 5,500円＋税 10%)

    本書は昭和39年（1964年）に『X線工業分析』として発刊され，第5集から『X線分析の進歩』として毎年刊行されているものである． 内容は，解説と報文，その年度におけるＸ線分析関係の論文・行事の紹介，機器についての資料集など． わが国における業界の年鑑といえるものである．

    方法として：蛍光X線分析，TXRF，XMA，PIXE，X線回折，結晶構造解析，EXAFS，視斜角入射X線回折，Ｘ線光電子分光，SIMS，放射光利用，X線顕微鏡装置，データ処理

    応用分野：金属・無機材料，半導体材料，光学系，ポリマー，薄膜試料，錯体，地球科学試料，考古・文化財，環境試料　など

    バックナンバーはこちら (外部サイト)

    投稿方法

    • 投稿規定：投稿の手引きをご覧のうえ執筆いただき，メールにて投稿してください．
    • 第55集への投稿締め切り日：2023年12月31日（厳守）
    • 原稿送付先： X線分析の進歩 編集委員会　（メールアドレス準備中）

    会場アクセスaccess

    会場：　東京都市大学　世田谷キャンパス

    　　　　　　（東京都世田谷区玉堤1-28-1）

    東急大井町線「尾山台（東京都市大学 世田谷キャンパス前）」駅下車　徒歩12分

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